FORMATION AND INVESTIGATION OF SCHOTTKY DIODES BASEDON PLATINUM AND NICKEL SILICIDE
Keywords:
Schottky diode; thin films; platinum silicide; nickel silicide; current-voltage characteristicsAbstract
Schottky diodes are widely used in electronics systems. The article deals with the height of Shottky diode barrier formed on the
basis of NiV-Pt/Si thin film system in different annealing modes. Using the methods of electronography and X-ray microanalysis the
changes in elemental composition and phase transformations of these systems in the conditions of two-step stationary annealing under
nitrogen environment depending on exposure time and temperature are investigated.
Table 5. Fig. 5. Ref.: 5 titles.
Downloads
Published
Issue
Section
License
Copyright (c) 2023 Вестник БарГУ Серия "Технические науки"
Это произведение доступно по лицензии Creative Commons «Attribution-NonCommercial» («Атрибуция — Некоммерческое использование») 4.0 Всемирная.
Авторы сохраняют за собой право заключать определенные договорные соглашения, касающиеся неисключительного распространения опубликованной версии работы (например, размещать ее в институциональном репозитории, публикация в книге) со ссылкой на ее первоначальную публикацию в этом журнале.